Rietveld Refinement Using GSAS Program :some special Application

Abstract

X-ray diffraction (XRD) is an invasive technique in materials science, it is a versatile, non-destructive analytical technique used to extract information about the structural model such as cell parameters and toidentify and quantify phases present in powdered and solid samples. For this purpose, theReitveldmethod is one of the most famous and successful methods that been used inmaterials science. Especially in the case of a sample that contains a phase that does not exist in the database. In this work we will detail some theoretical aspects of the Rietveld method and the GSAS program with their different commands, using some special powder examples.La diffraction des rayons x (XRD) est une technique invasive en science des matériaux, c’est une technique polyvalente et non destructive utilisée pour extraire des informations sur le modèle structural telles que les paramètres cellulaires et pour identifier et quantifier les phases présentes dans les échantillons en poudre et solides. A cette fin, la méthode de Rietveld est l’une des méthodes les plus célèbres et les plus réussies utilisées en science des matériaux surtout dans le cas d’un échantillon qui contient une phase qui n’existe pas dans la de données. Dans ce travail, nous détaillerons certains aspects théoriques de la méthode Rietveld et du programme GSAS avec leurs différentes commandes, en utilisant quelques exemples spéciales de poudres.